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測定器ホーム > 環境測定器 > 膜厚計 > 膜厚計デュアルスコープMPOR

膜厚計デュアルスコープMPOR

膜厚計MPORは、電磁方式か、渦電流方式が自動選択

●膜厚測定を電磁方式で

鉄及び鋼上の亜鉛、クロム、銅、ペイント、ラッカーなどの非磁性皮膜

●膜厚測定を渦電流方式で

アルミ、銅、真鍮、ステンレスなどの非鉄金属上のペイント、ラッカー、化学合成物質、または陽極酸化皮膜(アルマイト)などの絶縁皮膜

膜厚計デュアルスコープMPOR


定価税別 165,000円を 特価 153,450円(税込161,123円
膜厚計
アルミ/非磁性金属の素地の上のメッキ(金属)膜厚計測はできない

膜厚計デュアルスコープMPORの特長

膜厚計MPORは、ユーザー本体の片手操作で測定器を簡単に読取り可能

膜厚計MPORは、どのような測定ポジションからでも測定値を読取れるバックライト付の2つのディスプレイを備えた人間工学的設計

上/下限設定

膜厚計MPORと一体化された定厚式デュアルプローブにより、少ない接触力で一定した値が得られます。

自動オン・オフ機能
測定物が同じであれば校正しないでそのまま測定可能

ユーザー本位のメニューによりすばやく機能の選択可能

測定異常または測定範囲を超えた場合、可視、可聴信号が出ます

測定値1000件までのメモリーが、電源オフでも保持
測定値を直接EXCELスプレットシート(オプションソフトウェアWPFP-DATEX)に
無線送信できます。(オプションのRS232受信機が必要)
RS232ケーブルを使えば受信機をPCから離して最適な受信が可能

統計評価

一定の値を自動的に加減できるオフセット機能つき

校正はフォイルおよびベース補正で行います

測定方式が電磁方式か、過電流方式か自動選択


膜厚計デュアルスコープMPORの用途

ペイントやラッカーの処理作業に膜厚計MPORを

電気メッキ工場に膜厚計MPORを

宇宙航空産業に膜厚計MPORを

製造部門やその現場に膜厚計MPORを

商品の最終受入検査に膜厚計MPORを

試験期間またはコンサルタントに膜厚計MPORを

自動車産業に膜厚計MPORを


膜厚計デュアルスコープMPORの仕様

測定範囲 電磁方式 0〜2000μm
過電流方式 0〜2000μm
測定精度 0〜50μm ±1%以内
50〜1000μm ±2%以内
1000ppm〜2000μm ±3%以内
分解能 100μm以下: 0.1μm
100μm以上: 1.0μm
重さ 60g バッテリー除く
寸法 64(幅)×30(奥行)×85(高さ)o
電源 単3アルカリ乾電池2本
付属品 プローブキャップ、フォイル(標準板)、鉄板FE、アルミ板NFE
オプション RS232受信機 特価 34,500円
ソフトウェア 特価 98,000円

膜厚計デュアルスコープMPORのISO対策のための校正

本体のみ 45,000円(税込47,250円)
標準板 3,000円(税込3,150円)

納期 約10日間

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画像計測ソフトつきマイクロスコープ
画像寸法マイクロスコープAM-313(測定顕微鏡) 
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膜厚計MPORの注文 特価  153,450円(税込161,123円)
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