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![]() アルミ/非磁性金属の素地の上のメッキ(金属)膜厚計測はできない 膜厚計デュアルスコープMPORの特長
膜厚計MPORは、ユーザー本体の片手操作で測定器を簡単に読取り可能 膜厚計MPORは、どのような測定ポジションからでも測定値を読取れるバックライト付の2つのディスプレイを備えた人間工学的設計 上/下限設定 膜厚計MPORと一体化された定厚式デュアルプローブにより、少ない接触力で一定した値が得られます。 自動オン・オフ機能 ユーザー本位のメニューによりすばやく機能の選択可能 測定異常または測定範囲を超えた場合、可視、可聴信号が出ます 測定値1000件までのメモリーが、電源オフでも保持 統計評価 一定の値を自動的に加減できるオフセット機能つき 校正はフォイルおよびベース補正で行います 測定方式が電磁方式か、過電流方式か自動選択 膜厚計デュアルスコープMPORの用途ペイントやラッカーの処理作業に膜厚計MPORを電気メッキ工場に膜厚計MPORを宇宙航空産業に膜厚計MPORを製造部門やその現場に膜厚計MPORを商品の最終受入検査に膜厚計MPORを試験期間またはコンサルタントに膜厚計MPORを自動車産業に膜厚計MPORを膜厚計デュアルスコープMPORの仕様
膜厚計デュアルスコープMPORのISO対策のための校正本体のみ 45,000円(税込47,250円) 納期 約10日間
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